TEC celebrará el Día Internacional de la Metrología

Cada 20 de mayo se conmemora el Día Internacional de la Metrología. El Tecnológico de Costa Rica (TEC) este año lo celebrará bajo la temática: Medimos hoy para un mañana sostenible.

La Metrología es la ciencia de las mediciones, de los métodos y medios de medición que garantiza la uniformidad y precisión requeridas.

Además, brinda la garantía y la confianza necesarias para que las mediciones sean precisas para proporcionar una base sólida para el comercio mundial.

La actividad se realizará el 17 de mayo, a las 8:30 a.m., en el Centro de las Artes, Campus Central Cartago.

 Se detallan las actividades:

Hora

Actividad

Responsable

8:30 a.m.

Recibimiento de estudiantes CTLSC y CAL (refrigerio-desayuno)Estudiantes de Grupo 01 M&N, Profesora Paula Solano

9:00 a.m.

Mensaje de apertura del evento (Escuela de Ing. Producción Industrial)Ing. Leonel Fonseca Retana, M.Sc. Director EIPI

9:10 a.m.

Mensaje del Director del Laboratorio Costarricense de Metrología

Charla inaugural Metrología para la sostenibilidad”

Ing. Fernando Andrés, LACOMET

Dr. Bryan Calderon Jiménez, LACOMET y EF

10:00 a.m.

Charla: Sostenibilidad para la Industria desde la Metrología Dimensional de Alta Tecnología.Alonso Jesús Mejía Montero, Visional Techology

10:50 a. m.

Charla: La física computacional como herramienta para impulsar la investigación metrológica en países en vías de desarrollo.Ing. Valentina Campos, graduada de la carrera de Ingeniería Física-EF

11:50 p.m.

Mensaje y agradecimiento especial a cargo del Programa de Formación en MetrologíaFis. Gerardo Lacy Mora; Coordinador PFM-EF

12:00 p.m.

Mensaje de cierre del evento (Escuela de Física)

Fotografía del evento

Fis. Jonatan Sánchez Valle, Director

12:10 p.m.

AlmuerzoProfesora Paula Solano Leandro e Ingrid White Quesada

1:30 p.m. 

Escuela de Ingeniería en Producción Industrial

Lugar: Aula I3-08

Tema: ¿Cómo montar un laboratorio de metrología?

Empresa: Copre

 

 

 

 

Ing. Erick Pérez Murillo / Ing. Laura Rojas Camacho

Imagen de nanómetro de metrología
DETALLES
Inicia
Vie 17/05/2024 08:30 am
Finaliza
Vie 17/05/2024 01:30 pm
Categoría
Dirigido a
Contacto
Ingrid White Quesada
iwhite@tec.ac.cr