XRD ángulo rasante: Ingeniería en Materiales ahora cuenta con moderno dispositivo para el análisis de capas delgadas
El Laboratorio de Difracción de Rayos-X de la Escuela de Ciencia e Ingeniería de los Materiales se vio fortalecido con el apoyo recibido por la Vicerrectoría de Investigación y Extensión del Tecnologíco de Costa Rica con la adquisición de accesorios para el difractometro de polvos PANalytical empyrean que servirán para la medición y análisis de películas delgadas (pocos nanómetros hasta 1000 nm). Se trata de un colimador de platos paralelos, una mesa de análisis múltiples (MPSS) y un medidor de reloj que se ajustan al difractometro usando mediciones de reflectividad o ángulos rasantes para la detección de estas películas.
El coordinador del Laboratorio de Difracción de Rayos-X, Prof. Dr.-Ing. Teodolito Guillén, mencionó: “este dispositivo viene a fortalecer las actividades de investigación, docencia y venta de servicios con los que cuenta el Centro de Investigación y Extensión en Materiales (CIEMTEC) y la Escuela de Ciencia e Ingeniería de los Materiales”.
El Investigador Prof. Dr.-Ing. Luis Cordero comentó: “esta es una fuerte ayuda que nos brinda la Vicerrectoría de Investigación a la Escuela para continuar en sus actividades. En lo particular es de gran apoyo para mis actividades de investigación en la formación de capas delgadas de hidroxiapatita sobre superficies de biomateriales para regeneración de hueso y bioactivdad de superficies. Este dispositivo puede ser de gran ayuda para la industria médica del país y múltiples campos de investigación industrial”.
Para mayor información, de este dispositivo así como el uso del Difractrometro de Rayos-X, se puede contactar al Prof. Dr.-Ing. Teodolito Guillén (tguillen@tec.ac.cr).
Figura 1. Mesa de uso multiples (MPSS) y dial gauge (medidor de reloj) instalados en el difractometro de rayos-X.
Figura 2. Colimador de platos paralelos.