Microscopía de Contacto

Microscopio de Fuerza Atómica Nanosurf easyScan2

El Microscopio de Fuerza Atómica (Atomic Force Microscopy, AFM) utiliza una sonda, la cual es una punta sujeta al extremo de un cantiliver, que permite detectar fuerzas del orden de nanonewtons. Al recorrer la muestra con esta sonda se registra la topografía de la misma gracias a la deflexión del cantiliver. Esta información la procesa el software generando una imagen 3D. Este tipo de microscopio se utiliza para el estudio de superficies, capas delgadas, recubrimientos, visualización y caracterización eléctrica y magnética de nanoestructuras, también puede ser empleando en el estudio de muestras biológicas como bacterias y células. El equipo cuenta con la capacidad de realizar litografía y espectroscopia.

Especificaciones:

  • Facilidad para su operación.
  • Altamente sensible a las mediciones.
  • Ventana máxima de análisis 10μm.
  • Altura máxima de la muestra de 8mm.
  • Análisis de muestras secas o en medio líquido.
Imagen eliminada.

Microscopio de Efecto Túnel Nanosurf easyScan 2 

El Microscopio de Efecto Túnel (Scanning Tunneling Microscope, STM), permite determinar la variación tridimensional de la densidad de carga en una superficie mediante la tunelización de los electrones entre una punta afilada y la muestra. La posición de la punta es controlada en tres dimensiones por medio de controladores piezoeléctricos, la punta es escaneada en dos dimensiones laterales, mientras que un circuito de reacción ajusta constantemente la altura para mantener la corriente constante. Por lo tanto, al mantener una corriente constante se obtienen más o menos alturas similares en la punta, por lo que la forma de la superficie es reproducida durante el camino de la punta.

Especificaciones:

  • Facilidad para su operación.
  • Tamaño máximo de muestra 5mm x 5mm y 10mm de diámetro.
  • Modos de obtención de la imagen: Corriente constante y altura constante.