El viernes 20 de mayo se conmemoró en el Tecnológico de Costa Rica (TEC), el Día Internacional de la Metrología. Por medio de charlas, dos especialistas en la disciplina explicaron sobre el desarrollo de la misma en Costa Rica y el mundo. 

Las exposiciones tuvieron lugar en el auditorio del nuevo edificio de aulas (D-3) de la Sede Central Cartago y a ellas asistieron estudiantes y docentes de distintas carreras de la Institución. El inicio estuvo a cargo de la máster Jessica Chavarría y su ponencia titulada “El desarrollo de la metrología en Costa Rica”, en la cual expuso sobre la importancia de las mediciones en aspectos dinámicos como los deportes, transporte e industria.

“Los países persiguen el ideal de ser más competitivos y mejorar la calidad de vida de sus habitantes. La metrología permite un mayor desarrollo y eficiencia de los sectores productivos”, señaló Chavarría. Además, la experta hizo referencia a las tecnologías emergentes que permiten una mayor precisión en el oficio y a la importancia de que Costa Rica no se quede atrás en la evolución de este campo. 

Por su parte, el ingeniero Jeffrey Silva presentó el tema “La metrología como base del desarrollo industrial”, mediante la cual ahondó en detalles más globales sobre esta rama de la física y su aplicación en la empresas que producen dispositivos médicos. 

En el intermedio de ambas charlas, estudiantes realizaron a las afueras del auditorio actividades recreativas en las que aplicaban su conocimiento metrológico. El evento en general fue organizado por los alumnos de los grupos 1 y 2 del curso de Metrología de la carrera de Ingeniería en Producción Industrial, bajo la coordinación del profesor Rafael Torres.

La metrología se define como la ciencia que tiene por objeto el estudio de los sistemas de pesas y medidas. La celebración de su día internacional este año tuvo como temática “La metrología, motor de innovación tecnológica y desarrollo industrial”.  

Para conocer más información sobre este tópico, puede contactar al correo electrónico: rtorres@tec.ac.cr  

La primera exposición fue realizada por la máster Jessica Chavarría, del Laboratorio Costarricense de Metrología. (Foto: Ruth Garita / OCM)